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LS212超聲波測(cè)厚儀

詳細(xì)內(nèi)容

LS212超聲波測(cè)厚儀操作簡(jiǎn)單，利用超聲波脈沖反射原理測(cè)試材料的厚度。專業(yè)用于金屬(如鋼、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃等能傳播超聲波的材料的厚度測(cè)量。儀器采用專業(yè)的計(jì)時(shí)芯片設(shè)計(jì)，分辨率高達(dá)0.001mm?？勺杂纱钆錁?biāo)準(zhǔn)探頭、微徑探頭、粗晶探頭、高溫探頭四種探頭進(jìn)行使用。

序號(hào)	儀器配置	價(jià)格（含稅）
1	LS212超聲波測(cè)厚儀（含標(biāo)準(zhǔn)探頭）	￥1300
2	微徑探頭	￥240
3	粗晶探頭	￥420
4	高溫探頭	￥850

應(yīng)用行業(yè)

檢測(cè)由腐蝕或損壞引起的金屬損失對(duì)于項(xiàng)目的正常運(yùn)行或結(jié)構(gòu)的安全至關(guān)重要。LS212超聲波測(cè)厚儀可應(yīng)用于各種結(jié)構(gòu)和部件，包括船體、管道、壓力容器和結(jié)構(gòu)鋼的厚度測(cè)量，幫助確定它們是否需要維修或更換，可以廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

產(chǎn)品參數(shù)

1. 探頭規(guī)格及技術(shù)參數(shù)：

探頭名稱	標(biāo)準(zhǔn)探頭	微徑探頭	粗晶探頭	高溫探頭
探頭型號(hào)	5MHZφ10	7MHZ PT-06	2MHZ ZT-12	5MHZ GT-12
最小測(cè)量區(qū)域	φ10mm	φ6mm	φ12mm	φ12mm
探頭尺寸	φ18*26mm	φ15*25mm	φ18*28mm	φ43*48mm
測(cè)量范圍(45#鋼)	0.8-600mm	0.75-80mm	3-200mm	3-200mm
測(cè)量精度 (H為標(biāo)準(zhǔn)值)	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H	H＜10mm:±0.1mm H≥10mm:±1%H	H＜10mm:±0.05mm H≥10mm:±0.5%H
接觸溫度	-10~60℃	-10~60℃	-10~60℃	-10~500℃
適用范圍	測(cè)量常規(guī)工件	測(cè)量曲面及小工件	鑄鐵及一些晶體顆粒大的材料	測(cè)量高溫工件

2.主機(jī)技術(shù)參數(shù)：

參數(shù)名	參數(shù)值
分辨率	0.8-10mm：0.001mm 10-100mm：0.01mm 100-350mm：0.1mm
聲速范圍	1000~9999 m/s
顯示屏	240×160點(diǎn)陣LCD
單位	mm/inch
供電方式	2節(jié)AA堿性干電池
主機(jī)尺寸	1427228 mm
重量	約230g
工作溫度范圍	-10~50℃，0~85%RH（無(wú)凝露）
存儲(chǔ)溫度范圍	-10~60℃，0~85%RH（無(wú)凝露）

儀器特點(diǎn)

1、儀器使用高靈敏度超聲波雙晶探頭，能夠有效減少雜波，探頭外殼由不銹鋼制成，堅(jiān)硬耐用。

2、儀器可搭配標(biāo)準(zhǔn)探頭、微徑探頭、粗晶探頭、高溫探頭四種探頭，智能識(shí)別探頭的型號(hào)，儀器根據(jù)探頭類型自適應(yīng)顯示界面。

3、材料的材質(zhì)和厚度會(huì)影響探頭接收到的信號(hào)的強(qiáng)弱，LS212超聲波測(cè)厚儀可以根據(jù)材料類型和厚度自動(dòng)選擇合適的增益，即信號(hào)放大倍數(shù)，以達(dá)到最佳的測(cè)量效果。

4、材料厚度是由脈沖在被測(cè)材料中傳播所需的時(shí)間和材料聲速來(lái)確定的，LS212內(nèi)置專業(yè)的計(jì)時(shí)芯片，具有良好的穩(wěn)定性和測(cè)試精度，分辨率能夠精確到0.001mm。

5、儀器測(cè)試精度高，可達(dá)±0.05mm，確保能通過國(guó)家權(quán)威計(jì)量院檢測(cè)；分辨率高，測(cè)試厚度為0.8-10mm的材料時(shí)，其精度為0.001mm。

6、儀器用于測(cè)量金屬（鋼/鐵/鋁/銅）和非金屬（陶瓷、塑料和玻璃）基體和任何其他超聲波導(dǎo)體的厚度。測(cè)試時(shí)，材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸。曲面測(cè)量時(shí)，探頭的分割面應(yīng)與曲面軸線垂直測(cè)量。

7、儀器具有穿透涂層測(cè)量模式，當(dāng)工件表面有涂層或漆層時(shí)，會(huì)使測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)誤差。標(biāo)準(zhǔn)探頭帶有穿透涂層的測(cè)量方式，無(wú)需清除工件表面的涂層，即可以精確測(cè)量工件涂層下基材的實(shí)際厚度。